
物理特性
透過型電子顕微鏡を使用
確認された平均粒径は 1.7 ± 0.4 nm
(約 4 ± 1シリコン原子サイズ)

(a) Transmission Electron Microscopy (TEM)

Average particle size = 1.7 nm (S.D = 0.3nm, n = 117)
透過型電子顕微鏡を使用
確認された平均粒径は 1.7 ± 0.4 nm
(約 4 ± 1シリコン原子サイズ)
(a) Transmission Electron Microscopy (TEM)
Average particle size = 1.7 nm (S.D = 0.3nm, n = 117)